Soubor:FZU ALD 1.jpg
Původní soubor (3 000 × 2 000 pixelů, velikost souboru: 1,06 MB, MIME typ: image/jpeg)
Tento soubor pochází z Wikimedia Commons. Níže jsou zobrazeny informace, které obsahuje jeho tamější stránka s popisem souboru. |
Popis
PopisFZU ALD 1.jpg |
Čeština: Aparatura pro depozici atomárních vrstev. FZU – Fyzikální ústav Akademie věd ČR v Praze-Střešovících (Cukrovarnická 10), Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur v Sekci fyziky pevných látek.
English: Atomic layer deposition system. FZU – Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences in Prague-Střešovice (Cukrovarnická 10), Department of Thin Films and Nanostructures in the Division of Solid State Physics. |
||||||||||||||||||||||||||
Datum | |||||||||||||||||||||||||||
Zdroj |
institution QS:P195,Q20901931 |
||||||||||||||||||||||||||
Autor | René Volfík | ||||||||||||||||||||||||||
Svolení (Užití tohoto souboru) |
|
Pozice fotografa | 50° 07′ 24,51″ s. š., 14° 28′ 07,54″ v. d. | Tento snímek a mnohé další na: OpenStreetMap | 50.123475; 14.468761 |
---|
Licence
- Dílo smíte:
- šířit – kopírovat, distribuovat a sdělovat veřejnosti
- upravovat – pozměňovat, doplňovat, využívat celé nebo částečně v jiných dílech
- Za těchto podmínek:
- uveďte autora – Máte povinnost uvést autorství, poskytnout odkaz na licenci a uvést, pokud jste provedli změny. Toho můžete docílit jakýmkoli rozumným způsobem, avšak ne způsobem naznačujícím, že by poskytovatel licence schvaloval nebo podporoval vás nebo vaše užití díla.
- zachovejte licenci – Pokud tento materiál jakkoliv upravíte, přepracujete nebo použijete ve svém díle, musíte své příspěvky šířit pod stejnou nebo slučitelnou licencí jako originál.
Položky vyobrazené v tomto souboru
zobrazuje
19. 1. 2021
50°7'24.510"N, 14°28'7.540"E
Historie souboru
Kliknutím na datum a čas se zobrazí tehdejší verze souboru.
Datum a čas | Náhled | Rozměry | Uživatel | Komentář | |
---|---|---|---|---|---|
současná | 20. 11. 2023, 19:51 | 3 000 × 2 000 (1,06 MB) | Sandwort | Uploaded a work by René Volfík from {{Institution:Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences}} with UploadWizard |
Využití souboru
Tento soubor používá následující stránka:
Metadata
Tento soubor obsahuje dodatečné informace, poskytnuté zřejmě digitálním fotoaparátem nebo scannerem, kterým byl pořízen. Pokud byl soubor od té doby změněn, některé údaje mohou být neplatné.
Značka fotoaparátu | NIKON CORPORATION |
---|---|
Model fotoaparátu | NIKON D850 |
Autor | Rene Volfik |
Držitel autorských práv |
|
Expozice | 1/500 s (0,002) |
Clona | f/4 |
Nastavení ISO citlivosti | 1 250 |
Datum a čas pořízení obrázku | 19. 1. 2021, 10:58 |
Ohnisková vzdálenost | 17 mm |
Rozlišení obrázku na šířku | 300 dpi |
Rozlišení obrázku na výšku | 300 dpi |
Použitý software | Adobe Photoshop Lightroom 6.14 (Macintosh) |
Datum a čas vytvoření obrázku | 20. 1. 2021, 15:05 |
Expoziční program | Ruční |
Verze Exif | 2.3 |
Datum a čas digitalizace | 19. 1. 2021, 10:58 |
Expoziční čas (APEX) | 8,965784 |
Clona (APEX) | 4 |
Změna expozice | 0 |
Nejmenší clona | 3 APEX (f/2,83) |
Způsob měření | Vážený průměr |
Světelný zdroj | Není známo |
Blesk | Blesk nebyl použit |
zlomky sekundy pro DateTimeOriginal | 63 |
zlomky sekundy pro DateTimeDigitized | 63 |
Barevný prostor | sRGB |
X rozlišení ohniskové roviny | 2 301,3246154785 |
Y rozlišení ohniskové roviny | 2 301,3246154785 |
Jednotka rozlišení ohniskové roviny | 3 |
Senzor | Jednočipový plošný senzor |
Zdroj souboru | Digitální fotoaparát |
Druh scény | Přímo fotografováno |
Uživatelské zpracování | Běžné zpracování |
Expoziční režim | Ruční expozice |
Vyvážení bílé | Automatické vyvážení bílé |
Ekvivalent ohniskové délky pro 35mm film | 17 mm |
Druh scény | Standardní |
Úprava světlosti | Mírné zvýšení jasu |
Kontrast | Normální |
Sytost | Normální |
Ostrost | Normální |
Vzdálenost od předmětu | Není známo |
Sériové číslo přístroje | 8207324 |
Použitý objektiv | 17.0-35.0 mm f/2.8 |
Hodnocení (1–5) | 1 |
Datum poslední úpravy metadat | 20. 1. 2021, 16:05 |
Unikátní ID původního dokumentu | D9F000F36F7FD076AD8EEA7A393294CE |
Verze IIM | 4 |